產(chan) 品介紹

應粉體(ti) 工業(ye) 廣大用戶的顆粒材料表麵修飾活化評價(jia) 、乳液漿料穩定性預測和複雜製劑工藝配方的優(you) 化、礦物浮選及汙水處理等需求，珠海熊猫体彩官网首页儀(yi) 器有限公司在成功引進和吸收馬爾文帕納科 (Malvern Panalytical)顆粒表征技術的NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀(yi) 基礎上最新推出NS-Zeta 電位分析儀(yi) ，能滿足納米至微米廣闊範圍內(nei) 顆粒樣品的Zeta電位的測試需求。

NS-Zeta 電位分析儀(yi) 采用電泳光散射技術測定顆粒Zeta電位和電位分布，同時融合馬爾文帕納科恒流模式下的M3-PALS快慢場混合相位檢測分析技術，提升了儀(yi) 器的電位分析性能，延長了樣品池的使用壽命，數據隨時間的一致性和電位及電位分布的準確性都得以明顯提升。

與(yu) 此同時，儀(yi) 器廣泛采用全球化供應鏈的優(you) 質光電部件及Scrum軟件迭代升級開發模式，使其具有高品質並能隨用戶需求變化升級管理和報表功能。進口雪崩式光電二極管(APD)檢測器、He-Ne氣體(ti) 激光器光源和高性能相關(guan) 器等優(you) 質硬件，加上精確的內(nei) 部溫控裝置、密閉光纖光路設計以及先進的軟件算法，共同保障了數據的高重現性、準確性和靈敏度。NS-Zeta支持SOP標準化操作，具有兼容CFDA GMP《計算機化係統和確認與(yu) 驗證》要求的審計、權限管理及電子簽名功能以及具有測試數據質量智能反饋和優(you) 化建議，方便用戶使用。

工作原理

Zeta電位的概念

在顆粒表麵，穩定化合物的電中性平衡被打破，一些電荷沒有得到補償(chang) ，表現出顆粒表麵的帶電特性。這種電荷的正負和大小決(jue) 定了顆粒表麵離子和化學基團於(yu) 懸液介質中吸附極性分子、離子或化學基團的能力，影響懸液分散特性。介質中的顆粒表麵存在緊密吸附和動態吸附介質中帶電基團或離子的結構，稱作雙電層。顆粒在介質中運動是以此包裹顆粒核心的雙電層假想界麵進行的，此滑動/剪切界麵上的電位被稱為(wei) Zeta電位。

Zeta電位的概念圖 

電泳光散射技術

         NS-Zeta使用電泳光散射(Electrophoretic Light Scattering/ELS)技術測量顆粒滑移層的Zeta電位。顆粒在人為(wei) 施加的電場作用下做電泳運動，其電泳運動速率和Zeta電位直接相關(guan) ，以亨利方程進行表述。NS-Zeta使用恒流模式下的快慢場混合激光多普勒相位分析法(Mixed mode measurement, phase analysis light scattering/M3-PALS)，成功解決(jue) 了毛細管電滲對測試的影響，並且在一次測試過程中同時得到Zeta電位平均值和電位分布。電泳光散射技術可測量最大粒徑至100μm左右的樣品的Zeta電位 (取決(jue) 於(yu) 樣品屬性及製備) 。

NS-Zeta電泳光散射光路圖

等電點的概念

由於(yu) Zeta電位是基於(yu) 介質緊密和動態吸附的雙電層結構之上的電勢的測量，雙電層結構中包含的來源於(yu) 介質中的電荷就是一個(ge) 顯而易見的重要影響因素，通常pH的變化直接影響到介質中的電荷環境，較低pH的酸性環境，正電荷的離子更多，更多的正離子吸附於(yu) 雙電層中，使得顆粒Zeta電位向更高的正值方向遷移；同樣的較高pH的堿性環境，隨著負電荷離子的增多，Zeta電位向更高的負值方向遷移。在這個(ge) 遷移過程中，Zeta電位處於(yu) 0mV附近的漿料的pH值被稱作等電點。在等電點時，因為(wei) 沒有相同電荷互相排斥的影響，樣品最不穩定。

Zeta電位隨pH值變化的變化趨勢

用途

        NS-Zeta 電位分析儀(yi) 是一款高性價(jia) 比的納微米顆粒Zeta電位的表征儀(yi) 器，適用於(yu) 對電位及電位分布表征有較高靈敏度需求的材料分析。例如蛋白質、聚合物、膠體(ti) 、乳液、懸浮液及各種複雜配方製劑體(ti) 係等樣品的測試分析。

*：NS-Zeta可以根據需要購買(mai) 升級動態光散射技術的粒徑測試功能模塊。

典型應用

• 精細化工行業(ye) 納米材料、表活、低聚物等的開發和生產(chan) 質控

• 藥物分散體(ti) 係、乳液和疫苗等製劑配方和工藝開發

• 脂質體(ti) 和囊泡的開發

• 礦物堆浸及浮選

• 鑽井泥漿及陶瓷漿料

• 電極漿料及助劑的穩定性表征

• 塗覆材料穩定性能預測

• 墨水、碳粉、染料和顏料性能改進

• 優(you) 化水處理中絮凝劑的使用

• 膠體(ti) 、乳液、漿料穩定性評價(jia)

• 確定多種複雜製劑的混合、均質等加工工藝參數

性能特點

【先進的高信噪比光學設計】

        NS-Zeta 電位分析儀(yi) 通過優(you) 化的光學設計、光纖光路傳(chuan) 輸設計及高性能光源、信號采集和處理硬件，提高了散射光信號識別能力並減少了雜散光幹擾，確保了儀(yi) 器測試結果的高準確性、靈敏度和重現性，拓展了適宜的樣品測試範圍。

【恒流模式的M3-PALS快慢場混合相位檢測技術】

         NS-Zeta融合馬爾文的M3-PALS技術除了可消除電滲影響外，新升級的恒流模式下還實現了更高電導率樣品測試的可能。恒流模式能有效緩解電極極化的影響，與(yu) 可切換的高頻、低頻混合分析模式一起，使得結果重現性更好，準確性更高，且可獲得電位分布的信息。相比上一代產(chan) 品，NS-Zeta能滿足具有更高電導率的樣品的Zeta電位和電泳遷移率測試，同時可以提高電位樣品池的使用次數。

快慢場混合相位檢測Zeta電位分布、相位、頻移及Zeta電壓和電流圖

【易使用、免維護的係統設計】

        NS-Zeta采用密閉式光路設計防止汙染，日常使用主機無需維護。采用可替換的折疊毛細管樣品池，使用簡便，可同時製備多個(ge) 樣品依次檢測，效率更高。亦可清洗樣品池重複使用，無需複雜的儀(yi) 器或探測裝置的維護。

【高光學性能、穩定且長壽命的氣體(ti) 激光光源】

        采用進口高穩定He-Ne氣體(ti) 激光器確保數據的重現性，波長632.8nm，功率4mW。He-Ne氣體(ti) 激光器的光束發散角、單色性、溫度電壓波動穩定性、相幹性皆遠優(you) 於(yu) 半導體(ti) 固體(ti) 激光器。NS-Zeta所使用的氣體(ti) 激光管采用硬封裝工藝確保激光管中氦氖氣體(ti) 惰性工作物質終身無損失，激光管壽命達到10年以上，且在生命周期內(nei) 其光學品質幾乎沒有變化，確保了測試數據始終可信，且無需用戶校準。由於(yu) He-Ne氣體(ti) 激光器相幹性能顯著優(you) 於(yu) 半導體(ti) 固體(ti) 激光器，僅(jin) 需較低的功率即可產(chan) 生滿足測量需求的散射光信號，同時具有更低的雜散光噪聲使樣品分析靈敏度更高。

【報告可自定義(yi) 多種參數輸出】

        NS-Zeta具有完備的Zeta電位分析功能。可輸出Zeta電位、電位分布、各電位峰的平均值和寬度等參數。

【高性能檢測器】

        使用高量子效率(QE)的雪崩式光電二極管(APD)檢測器，QE≥80%@632.8nm，靈敏度遠高於(yu) 光電倍增管(PMT)且噪音更低。高成本的優(you) 質APD部件保障了儀(yi) 器卓越的測試性能。

【精確的內(nei) 部控溫係統】

        獨立的帕爾貼循環溫控裝置可在0-120℃範圍內(nei) 任意設定，升溫降溫速度快，控製精度最高可達0.1℃，保障測試結果高重現性。

【升級的專(zhuan) 家指導功能提升測試水平】

        NS-Zeta測試後會(hui) 在數據質量指南模塊下自動生成智能化專(zhuan) 家指導意見，為(wei) 如何進一步優(you) 化測試或樣品處理提供可行方案建議。該技術可以同時協助用戶快速判讀更準確的Zeta電位和電位分布結果，有利於(yu) 減少測試數據的錯誤，及時發現和改善因方法或環境發生變化而引起的測試質量變化。

【具有符合CFDA GMP《計算機化係統和確認與(yu) 驗證》要求的審計、權限管理與(yu) 電子簽名等功能】

用戶權限配置和管理功能示意圖

審計追蹤功能示意圖

【功能豐(feng) 富的軟件優(you) 化用戶體(ti) 驗】

        提供標準化操作程序(SOP)簡化常規測量；自動配置各種樣品的最佳硬件和算法設置，亦可手動設置；操作簡單，無須準直、校正或額外保養(yang) ；智能化，可自動判斷數據報告的質量並給出優(you) 化建議。

1. 使用先進SCRUM軟件迭代開發模式，基於(yu) 當前主流軟件開發技術的新穎界麵設計，操作簡單易用，可根據行業(ye) 應用和法規變化不斷升級軟件以與(yu) 之匹配。

2. 全自動硬件設置和測量：隻需最簡單的培訓即可設置儀(yi) 器，包括樣品池位置、數據記錄、分析和結果顯示。

電位測試的設置界麵（部分）及分析模型選擇示意圖

3. 支持SOP標準化操作程序，避免了測試操作和參數設置的不一致，從(cong) 而提高數據的重現性。 

4. 智能化測量數據的係統評估：儀(yi) 器分析軟件可根據測試條件和結果自動智能判斷數據報告的質量，並針對質量不佳的測試給出改善建議。包含測試報告的質量評價(jia) 、問題產(chan) 生的原因、如何使用這些數據、如何改進這些數據等等。

5. 打印或屏幕顯示報告使用簡單；含報表設計器，隻需在指定的位置選擇所需的結果圖表，就可根據不同的需要定製不同的報告。

6. 樣品數據和結果存儲(chu) 在測量文件中，方便進行數據的比較。

7. 數據分析：數據以圖形或表格的形式呈現且可一鍵導出；多種分析模式可供選擇，具有多種數據分類、分組、排序、篩選、統計和趨勢分析功能。

8. 具有完善的介質粘度數據庫，並可根據給定的溫度自動計算常見緩衝(chong) 體(ti) 係的粘度。

典型測試結果

1. NS-Zeta電位和電位分布的測量——ZTS1240電位標樣

2. 矽溶膠的Zeta電位及分布

NS-Zeta具有良好的電位和電位分布數據的重現性。

3. 表麵活性劑吐溫20的Zeta電位及分布

NS-Zeta可以測試Zeta電位絕對值極低的膠束等顆粒樣品，具有0電位附近的顆粒表征的識別性能，有利於(yu) 識別對製劑穩定性有較大影響的因素。

標配附件

折疊毛細管樣品池(DTS1070)

可替換型，無汙染

使用擴散障礙法時，可實現最少樣品量20μL的測試

適用於(yu) 水或乙醇作為(wei) 分散介質的Zeta電位測試

可使用標準化的微量無滲魯爾接頭，搭配MPT-3自動滴定儀(yi) (ZSU1001)使用

恒流模式下可用於(yu) 測試數百次低電導率樣品

可選配附件

通用“插入式”樣品池套件(ZEN1002)

最少樣品量0.7mL

可搭配12mm玻璃樣品池(PCS1115)用於(yu) 水性或非水性樣品的測試

便於(yu) 多樣品同時製樣，加快測試流程

12mm玻璃樣品池(PCS1115)

最少樣品量1mL

玻璃材質，適用於(yu) 絕大多數的水性和非水性的介質的測試

可搭配通用“插入式”樣品池 (ZEN1002)進行Zeta電位的測試

高濃度Zeta電位樣品池套件(ZEN1010)

適用於(yu) 無法稀釋或高濃度的水性樣品的測試

可搭配MPT-3自動滴定儀(yi) (ZSU1001)使用 

MPT-3自動滴定儀(yi) (ZSU1001)

最少樣品量5mL

滴定劑精度0.28μL

適用於(yu) 水性樣品的測試

可搭配折疊毛細管樣品池(DTS1070)或高濃度Zeta電位樣品池套件(ZEN1010)，根據預設的pH值序列進行自動滴定，並測試隨pH值變化的Zeta電位變化趨勢

可測定等電點，用於(yu) 評價(jia) 分散體(ti) 係的穩定性

技術參數

【Zeta電位】

Zeta 電位範圍：無實際限製

適用測試的粒徑上限：不小於(yu) 100μm (取決(jue) 於(yu) 樣品)

最大電泳速率：＞+20μ.cm/V.s / ＜-20μ.cm/V.s

測量原理：電泳光散射法(ELS)

最高樣品濃度：40% w/v (取決(jue) 於(yu) 樣品及樣品池)

最小樣品容積：20μL

最高樣品電導率：260mS/cm

檢測技術：快慢場混合相位分析(M3-PALS)，恒流模式

【係統】

激光光源：高穩定He-Ne氣體(ti) 激光器，波長632.8nm，功率 4mW。

整機激光安全：I類

檢測角度： 13°

檢測器：雪崩式光電二極管(APD)檢測器，QE≥80%@632.8nm

相關(guan) 器：采樣時間 25ns - 8000s，多於(yu) 4000通道，1011動態線性範圍

冷凝控製：幹燥氮氣或空氣吹掃 (需外接氣源)

具有兼容CFDA GMP《計算機化係統和確認與(yu) 驗證》的審計、權限管理及電子簽名功能

溫度控製範圍：0  - 120 ℃

溫度控製最高精度：± 0.1 ℃

【重量與(yu) 尺寸】

主機尺寸：322×565×245 mm (W×D×H)

主機淨重：19 kg

【運行環境】

電源要求： AC 100 - 240V, 50 - 60Hz，4.0A

功率：最大值100W，典型值45W

推薦計算機最低配置： Intel Core i5 2.5Ghz及以上，4GB內(nei) 存，250G硬盤，顯示分辨率1440×900 32bit及以上

計算機接口： USB 2.0或更高

推薦操作係統： Windows 10或Windows 11專(zhuan) 業(ye) 版

環境要求：溫度10 - 35℃，濕度：35 - 80%， 無冷凝

**盡管我們(men) 已竭力確保本材料中信息的正確性和完整性，仍保留隨時更改本材料中任何內(nei) 容的權利。